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    激光粒度分析儀

    更新時間:2025-04-02

    經過近半個世紀的不斷探索,開發出一代又一代優良的激光粒度分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以革新的技術,拓展測試下限至0.01μm。它采用現代模塊式設計,內置高能量,高穩定性,超長壽命的固體二級管激光器。對非球形顆粒的米氏理論修正,保證每一次樣品分析的測量精度。
    • 產品詳情

    經過近半個世紀的不斷探索,開發出一代又一代優良的激光粒度分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以革新的技術,拓展測試下限至0.01μm。它采用現代模塊式設計,內置高能量,高穩定性,超長壽命的固體二級管激光器。對非球形顆粒的米氏理論修正,保證每一次樣品分析的測量精度。


    Microtrac S3500系列產品

    藍波2型(BWDL)):濕法測量范圍:0.01-2,800μm;

    藍波1型(BWSL)):濕法測量范圍:0.01-2,000μm;

    增強型(Enhanced):濕法測量范圍:0.02-2,800μm;

    擴展型(eXtended):濕法測量范圍:0.02-2,000μm;

    特殊型(speciaL):濕法測量范圍:0.09-1,500μm;

    標準型(Standard):濕法測量范圍:0.25-1,500μm;

    高端型(High):濕法測量范圍:2.75-2,800μm;

    基本型(Basic):濕法測量范圍:0.70-1,000μm;


    * 歡迎定制更寬的測量范圍



    主要特點:

    • Tri-Laser激光系統, *消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點"的影響和多次米氏理論(Mie Theory)數學處理的誤差(米氏理論處理與波長有關);

    • “Bluewave"激光技術,拓展測量下限至0.01μm;

    • 無需掃描,同步接受全量程散射光信號,保證分析結果的高重現性及全量程范圍的高分辨率;

    • 引進“非球形"顆粒概念對米氏理論計算的校正因子,內置常用分析物質光學數據庫,提高顆粒粒度分布測試的準確性;

    • 系統自動對光,內置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度;

    • 多種樣品分散系統可供選擇,各種分散系統之間的轉換簡單方便,結果穩定一致;

    • 現代模塊式設計,可根據實際應用需要允許選擇儀器的配置,以滿足將來的任何需要;

    • 數據處理靈活方便,體積分布,數量分布和強度分布,微分與累計百分比以及其他綜合報告形式任意組合,數據存儲兼容性強;

    • NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質認證儀器;


    日本型號:MT3300、MT3200、MT3100


    產品參數
    測量范圍0.01μm-2,800μm
    測量精度0.6%
    測量時間10-30 秒
    所需樣品量0.05-2g
    兼容性與任何常用有機溶劑兼容
    光源三束3mW 780nm固體二極管激光器, 電腦控制自動校準
    準直功能電腦控制自動對光
    光路固定光學平臺,傅利葉光路結合雙透鏡技術
    接受角度0.02-163°
    檢測器高靈敏硅光電二極管
    檢測器數量151個對數方式優化排列
    操作靈活兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系統
    報告格式體積,數量和面積分布,包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據以ODBC形式輸出兼容其他統計分析軟件和文字
    處理軟件安全性數據的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
    環境要求溫度5-40℃
    相對濕度小于90%
    電源要求90-240 VAC, 5A,50/60Hz
    主機尺寸360H x 560W x 460D mm
    標準化符合ISO 13320-1 激光粒度分析國際標準
    完整配置固定光學平臺, 樣品分散系統, 計算機/打印機, 數據處理軟件






     

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