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    測量范圍Z寬的折光儀J357

    2005-01-13

    為滿足石化、醫藥等領域高標準實驗室的特殊應用要求，美國魯道夫公司推出了J357折光儀,該儀器配置特殊半導體控溫模塊，允許用戶在15-100℃溫度范圍內的任意溫度點對樣品進行控溫測量，解決了高熔點樣品折光測量的難題。
    測量范圍：1.29-1.70RI，0-95Brix
    測量準確度：±0.00004RI，±0.03Brix
    控溫范圍：15-100℃，準確度：0.05℃
    模塊詳細資料歡迎瀏覽我公司或聯絡我公司各辦事處索取.
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